光学膜厚监控仪

HOM5-T-IR2000

中红外光学膜厚监控仪

HOM5-T-IR2000是用于生产红外滤光片的光学薄膜镀膜机的中红外透射型光学膜厚监测仪。 其波长范围覆盖1700-5500nm，波长监控范围比光驰以前的900-2400nm的膜厚仪还要宽。

特征
新开发的光学厚度监测仪的波长监控范围为1700-5500 nm（1819-5882 cm-1）
在红外范围内具有很高的光稳定性
规格
型号 HOM5-T-IR2000
波长范围 1700 - 5500nm
电源 交流电100V±10%, 50/60Hz